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讲座题目：金属纳米线网格的焦耳热熔断行为研究

主讲人：李渊，副教授，日本东北学院大学

讲座时间：2017年3月21日上午9:00—10:00

讲座地点：A8111

报告摘要：

本次报告将首先介绍金属纳米线网格作为ITO透明导电膜的替代材料的优缺点，特别是焦耳热熔断行为的产生对其可靠性的影响。其次针对金属纳米线网格的焦耳热熔断行为，提出基于电热耦合分析的数值算法，分析纳米线几何尺寸及边界条件的影响，对金属纳米线网格的优化设计提供指导。

个人简介：

李渊，博士，日本东北学院大学副教授。1997-2001年获西南农业大学（现西南大学）机械设计及制造专业学士学位，2001-2004年获重庆大学固体力学专业硕士学位，2009-2011年获日本千叶大学博士学位。李渊博士先后任西南大学讲师（2004-2007年）、日本东北大学助理教授（2011-2016年），2016年至今在日本东北学院大学任副教授。李渊博士主要从事纳米复合材料的力/电学性能研究、金属微小材料的制备˙特性评价及应用、金属纳米线透明导电膜的可靠性研究、锂电池负极材料特性增强研究。迄今为止，已在Carbon，Nanoscale，Nanotechnology，Sensors等期刊上发表论文35篇、著书2个章节。

主办单位：重庆大学工程学部

承办单位：重庆大学航空航天学院

欢迎各单位师生参加，并针对有关问题现场提问。